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奔創(chuàng)ATHENA在線式彩色3D AOI
奔創(chuàng)ATHENA在線式彩色3D AOI

奔創(chuàng)ATHENA在線式彩色3D AOI

ATHENA 在線式彩色 3D AOI關(guān)鍵技術(shù)優(yōu)勢8+4投射+3層2D光源2D 和 3D 同步檢測算法遠(yuǎn)心鏡頭提供高精確度檢測高配置CPU足以保證圖像快速處理簡單明了的用戶界面內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)元件庫管理系統(tǒng)離線實時調(diào)試系統(tǒng)(選項)ATHENA 在線式彩色 3D AOI先進(jìn)的高速度檢測和測量技術(shù)1、無陰影高速檢測和測量技術(shù)在Pemtron錫膏檢測系統(tǒng)中已使用超過10年的PMP相位測量技術(shù)(莫爾條紋),擁有豐...

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ATHENA 在線式彩色 3D AOI關(guān)鍵技術(shù)優(yōu)勢

8+4投射+3層2D光源

2D 和 3D 同步檢測算法

遠(yuǎn)心鏡頭提供高精確度檢測

高配置CPU足以保證圖像快速處理

簡單明了的用戶界面

內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)元件庫管理系統(tǒng)

離線實時調(diào)試系統(tǒng)(選項)

ATHENA 在線式彩色 3D AOI先進(jìn)的高速度檢測和測量技術(shù)

1、無陰影高速檢測和測量技術(shù)

在Pemtron錫膏檢測系統(tǒng)中已使用超過10年的PMP相位測量技術(shù)(莫爾條紋),擁有豐富的3D圖像處理和檢測經(jīng)驗。

ATHENA 系列 3D AOI配備100萬像素相機(jī)和8+4投射系統(tǒng),對PCB進(jìn)行100%的2D和3D全檢,保障完全無陰影光學(xué)檢測和低誤報率,并保持高度靈活性的系統(tǒng)功能。

奔創(chuàng)ATHENA在線式彩色3D AOI (圖1)

2、高速檢測技術(shù)

 ATHENA采用先進(jìn)的算法,使用先進(jìn)強(qiáng)大的影像處理器、控制器和自主專項開發(fā)的10MP、15um、 180fps遠(yuǎn)心鏡頭相機(jī),實現(xiàn)高速、穩(wěn)定的測試。

3、高元件檢測技術(shù)

 ATHENA采用全新的8+4方向3D投射技術(shù),可提供業(yè)界領(lǐng)先的27mm元件高度的全方位3D檢測,選配Z軸,最高可以檢測60mm高度的元件。

奔創(chuàng)ATHENA在線式彩色3D AOI (圖2)

4、無陰影 3D 技術(shù)

環(huán)狀光源和多投射系統(tǒng)能完全消除高密度元件和高元件對PCB產(chǎn)生的陰影影響。

奔創(chuàng)ATHENA在線式彩色3D AOI (圖3)

5、光學(xué)字符識別

利用光學(xué)彩色抽色及建立樣板比對的原理識別元件的Part Name,能夠增加和修改OCR字體來優(yōu)化Part Name的檢測條件,更好地識別字體。

奔創(chuàng)ATHENA在線式彩色3D AOI (圖4)

6、3D 焊錫高度測量

利用Pemtron先進(jìn)的3D技術(shù),ATHENA能夠檢測到傳統(tǒng)2D AOI無法到達(dá)的區(qū)域,增加了焊錫高度、體積和元件共面性的測試項目,大大提高了對不良產(chǎn)品的檢測能力。

奔創(chuàng)ATHENA在線式彩色3D AOI (圖5)

7、3D 引腳檢測

ATHENA能夠檢測引腳的焊錫高度和體積,并且提供高質(zhì)量的真彩色3D圖像。

奔創(chuàng)ATHENA在線式彩色3D AOI (圖6)

8、2D RGB 算法

通過RGB顏色區(qū)分,使操作者能更輕松地區(qū)分空焊、翹腳等不良。

奔創(chuàng)ATHENA在線式彩色3D AOI (圖7)


TAG標(biāo)簽: 3DAOI

設(shè)備型號:ATHENA

檢測算法:2D: 視覺檢測算法 3D: PMP 相移技術(shù) (摩爾條紋)

相機(jī)像素:1000萬、1200萬

X/Y 分辨率:10um、15um、18um

最大基板尺寸:330*330mm

最小基板尺寸:50 *50 mm

基板厚度:0.4 – 7 mm

元件凈高:上方:50mm 下方:50 mm

元件高度:0-5.5m (選配 27mm、Z Axis)

基板彎曲度:±3mm

馬達(dá)類型:X/Y 線性馬達(dá)

設(shè)備電源:單相交流 220-240Vac,50/60 Hz

備 注:ATHENA 支持超長基板處理能力(最大可處理1.2m長基板)

設(shè)備型號:ATHENA L

檢測算法:2D: 視覺檢測算法 3D: PMP 相移技術(shù) (摩爾條紋)

相機(jī)像素:1000萬、1200萬

X/Y 分辨率:10um、15um、18um

最大基板尺寸:510*510mm

最小基板尺寸:50 *50 mm

基板厚度:0.4 – 7 mm

元件凈高:上方:50mm 下方:50 mm

元件高度:0-5.5m (選配 27mm、Z Axis)

基板彎曲度:±3mm

馬達(dá)類型:X/Y 線性馬達(dá)

設(shè)備電源:單相交流 220-240Vac,50/60 Hz

備 注:ATHENA 支持超長基板處理能力(最大可處理1.2m長基板)

設(shè)備型號:ATHENA D

檢測算法:2D: 視覺檢測算法 3D: PMP 相移技術(shù) (摩爾條紋)

相機(jī)像素:1000萬、1200萬

X/Y 分辨率:10um、15um、18um

最大基板尺寸:DL:330*280mm SL:330*500mm

最小基板尺寸:50 *50 mm

基板厚度:0.4 – 7 mm

元件凈高:上方:50mm 下方:50 mm

元件高度:0-5.5m (選配 27mm、Z Axis)

基板彎曲度:±3mm

馬達(dá)類型:X/Y 線性馬達(dá)

設(shè)備電源:單相交流 220-240Vac,50/60 Hz

備 注:ATHENA 支持超長基板處理能力(最大可處理1.2m長基板)

設(shè)備型號:ATHENA DL

檢測算法:2D: 視覺檢測算法 3D: PMP 相移技術(shù) (摩爾條紋)

相機(jī)像素:1000萬、1200萬

X/Y 分辨率:10um、15um、18um

最大基板尺寸:DL:510*330mm SL:510*600mm

最小基板尺寸:50 *50 mm

基板厚度:0.4 – 7 mm

元件凈高:上方:50mm 下方:50 mm

元件高度:0-5.5m (選配 27mm、Z Axis)

基板彎曲度:±3mm

馬達(dá)類型:X/Y 線性馬達(dá)

設(shè)備電源:單相交流 220-240Vac,50/60 Hz

備 注:ATHENA 支持超長基板處理能力(最大可處理1.2m長基板)

 
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